摘要
结束 核查和讨论4一种常用指标辐射检测仪(6150AD6+6150AD-b形态剂量计、FH40G+FHZ672E-10形态剂量计、451PI型电离室剂量计和AT1123形态剂量计)基于GIS指标时间响应校正方式。
方式 在X辐射辐照时间做500、200、100和50 ms情况下,记录仪器显示周边剂量当量率;根据抵抗,R电容C串联电气(RC电气)时间响应修正惯用语句 指标时间响应修正惯用语句 用于校正数据指标时间响应。
结果 AT1123A型剂量计测量成本给予辐照时间无关,他他3种子剂量计测量成本随辐照时间指标不同而有明显指标变化。
结论 AT1123剂量计测量成本可以在没有时间响应指标情况下进行校正,他他3用修正指标时间响应惯用语句 可以修正物种剂量计测量成本。

核辐射探测器,AT1123

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在辐射防护试验中,经常需要发现辐射暴露指标持续时间很短(ms - s数量级,如果ns - ms量级)指标X光线装置所在指标工作场所。计算机在治疗诊断在?里 应用X射线摄影(CR)和数字X射线摄影(DR)介入放射学中使用指标X线摄影装置指标单时间 辐照时间处于摄影模式ms - s量级,脉冲在工业在?里 应用X辐射器指标单时间 辐照时间如果可以达到ns - ms量级。做了得到准确指标测试结果,,短时间辐照条件下指标探测,应选择响应时间小于辐射时间指标仪器,否则,有必要答复仪器测量成本作出相应指标修正。根据经典指标电子学理论,抵抗力R电容C串联电气(RC电气)有时间响应指标修正惯用语句 ,电离室仪器指标测量结果只能用来确定工作场所指标辐射水平是否符合国家海关标准指标要求。现在,辐射测试仪基于GIS指标时间响应校正方式尚未确定,因此,研究辐射检测仪指标时间是十分必要指标。在本研究中,使用辐射防护探测4类型检测设备,在辐照期间50 - 500ms在.指标情况下测量,利用时间响应修正惯用语句 答复仪器测量成本修改和讨论,这将有助于促进时间响应校正方式在常规辐射测试仪器在?里 合理应用。

材料和方式
1.测量答复象:4每种剂量计各自德国Automess由w66利来生产6150AD6+6150AD-b形态剂量计、美国Thermo由w66利来生产FH40G+FHZ672E-10形态剂量计、美国Fluke由w66利来生产451PI型电离室剂量计给予白俄罗斯ATOMTEX创造性AT1123形态剂量计。

2.仪器:美国GE由w66利来生产Brio类型 X放射照相设备。

3.测量方式:X无线电机工作电压80kV,电流200mA,曝光时间设置做500、200、100和50ms,辐照后记录保护门30cm每个剂量计在现场显示指标周边剂量当量率*大成本,该成本乘以该仪器指标校准因子,以获得所测量指标外围剂量当量率。电离室剂量计,他RC电气时间校正惯用语句 做:
D(t)=h(1-e-t/τ)
公式,D(t)做t时间仪测量外围剂量当量率,μSv/h;h辐射场地指标实际周边剂量当量率,μSv/h;t做了时间,s;τ做RC电气时间常数,s,仪器指标响应时间做2.197τ。

4.质量管理:4各种剂量计均经中国计量科学院检定或校准,测量时间在验证或校准指标有效期内。

结果
1.AT1123形态剂量计:AT1123短时间测量模式下指标剂量计(>30ms)表中显示了测量成本随辐照时间指标变化1。在相同辐照时间下进行多时间 测量时,每个样品指标相答复均方差都是全部<13%。答复50~500ms所有指标测量9测量数,样品相答复均方差<10%。这个测量是基于AT1123在短时间测量条件下用形剂量计选择测量方式,仪器测量成本给予辐照时间无关,测量结果无需时间响应即可进行校正,这给予仪器手册是一致指标。

2.451PI型电离室剂量计、6150AD6+6150AD-bA型剂量计FH40G+FHZ672E-10形态剂量计:3表中显示了种子剂量计测量成本2~4,表在?里 数据已从背景中扣除。表2测量成本指标变化范围做0.47~5.07μSv/h,表3测量成本指标变化范围做0.53~5.20μSv/h,表4测量成本指标变化范围做0.64~7.76μSv/h,这3种子设备测量成本随辐照时间指标延长而有明显指标变化,当同一台仪器在不同指标时间被照射时,,测量成本指标差成本可以达到一个数量级;给予ATl123显示器指标平均成本给予显示器指标平均成本之间指标差成本接近两个数量级。然而,当在相同指标辐照时间下进行多时间 测量时,,样品指标均方差小,相答复均方差全部<10%。

3.时间响应校正结果:选择AT1123B型辐照持续时间*长(500ms)测量成本(41.4μSv/h)完成
惯用语句 (1)中等辐射场地实际周边剂量当量率h价成本;需要指出6150AD6+6150AD-bA型剂量计FH40G+FHZ672E-10剂量计指标类型是答复塑料闪烁型指标检测,该惯用语句 也适用于本研究(1)修改,探索他可行性。答复451PI型电离室剂量计、6150AD6+6150AD-bA型剂量计FH40G+FHZ672E-10形式剂量计指标同时选择500ms时间测量成本(5.07、5.20和7.76μSv/h)完成 D(τ)替代惯用语句 (1),你会发现指标τ,各自3.82、3.72和2.41s。然后使用计算结果τ成本和惯用语句 (1)修改仪器测量成本,校正成本列于表中5。从桌子上5如你所见,,3种子剂量计指标校正成本给予种子剂量计指标校正成本相同h成本
表1不同辐照时间AT1123A型剂量计测量指标周边剂量当量率(μSv/h)
辐照时间(ms) 第1时间 第2时间 第3时间 平均成本 均方差
500 41.4 41.4
200 45.1 45.1 46.0 45.3 0.99
100 41.4 49.7 45.5 5.85
50 35.9 44.2 46.0 42.0 5.39
注:“—”指示它未被测量,这些数据已从背景中扣除,背景平均成本是0.10uSv/h。将剂量计显示价成本乘以校准因子
表2不同辐照时间451P电离室剂量计测量周边剂量当量率(μSv/h)
辐照时间(ms) 第1组 第2组 第3组 平均成本 均方差
500 5.07 5.07
200 1.99 2.12 2.01 2.04 0.07
100 0.98 1.06 1.02 0.06
50 0.55 0.55 0.47 0.53 0.05
注:“—”指示它未被测量,这些数据已从背景中扣除,背景平均成本是0.10μSv/h。将剂量计显示价成本乘以校准因子
表3不同辐照时间6150AD6+6150AD-bA型剂量计测量指标周边剂量当量率“(uSv/h)
辐照时间(ms) 第1组 第2组 第3组 平均成本 均方差
500 5.2 5.20
200 2.65 2.69 2.30 2.55 0.22
100 1.23 1.27 1.25 0.04
50 0.57 0.53 0.61 0.57 0.04
注:“—”指示它未被测量,这些数据已从背景中扣除,背景平均成本是0.10μSv/h。将剂量计显示价成本乘以校准因子
表4不同辐照时间FH40G+FHZ672E-10A型剂量计测量指标周边剂量当量率(μSv/h)
辐照时间(ms) 第1组 第2组 第3组 平均成本 均方差
500 7.76 7.76
200 2.95 3.02 2.90 2.96 0.06
100 1.49 1.50 1.49 0.01
50 0.64 0.70 0.72 0.69 0.05
注:“—”指示它未被测量,这些数据已从背景中扣除,背景平均成本是0.10μSv/h。将剂量计显示价成本乘以校准因子
表5 3种子剂量计测量不同辐照时间剂量当量率指标校正成本
剂量计 辐照时间(ms) 平均测量成本(μSv/h) 校正成本(μSv/h)
6150AD6+6150AD-b 500 5.20 41.4
200 2.55 48.7
100 1.25 47.2
50 0.57 42.7
FH40G+FHZ672E-10 500 7.76 41.4
200 2.96 37.2
100 1.49 36.7
50 0.69 33.5
451P 500 5.07 41.4
200 2.04 40.0
100 1.02 39.5
50 0.53 40.5
(41.4 μSv/h)指标*大偏差平均<20%,校正结果相互接近h成本。

讨论
根据上述测量和分析,答复于测量情况,451P形态剂量计、6150AD6+6150AD-b形态剂量计、FH40G+FHZ672E-10当辐射持续时间较短时,剂量计测量成本可通过时间响应修改,惯用语句 (1)在?里 r可用价成本3.82、3.72和2.41s。但根据相关研究,此时计算r成本是否给予仪器指标时间常数一致?,需要进一步讨论。

他他,必须指出指标是,在这时间 测量中测量到指标辐射场是相答复较高指标,当辐射水平低一个数量级以上,曝光时间低一个数量级以上时<200ms时,该仪器测量成本将接近背景,背景指标统计波动将答复校正结果产生很大指标影响,如果都无法纠正,例如,实际外围剂量当量率是2.5μSv/h辐照时间是200ms时,根据惯用语句 (1)以及上面指标计算r成本,可以推断3该仪器测量成本仅做0.15、0.18和0.12μSv/h,这些成本给予背景成本相关0.10μSv/h非常接近。

这项研究指标结果如下:*职业卫生标准《辐射诊断答复辐射防护指标要求》.指标提法、修订提供数据支持。

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